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Accueil > Centre des produits > Circuits intégrés (ci) > Logique - logique de spécialité > SN74BCT8244ANTG4
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SN74BCT8244ANTG4

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Spécifications
  • Modèle de produit
    SN74BCT8244ANTG4
  • Fabricant / marque
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Quantité en stock
    En stock
  • La description
    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
  • État sans plomb / État RoHS
    Sans plomb / conforme à la directive RoHS
  • tension d'alimentation
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Package composant fournisseur
    24-PDIP
  • Séries
    74BCT
  • Emballage
    Tube
  • Package / Boîte
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • Autres noms
    SN74BCT8244ANTE4
    SN74BCT8244ANTE4-ND
  • Température de fonctionnement
    0°C ~ 70°C
  • Nombre de bits
    8
  • Type de montage
    Through Hole
  • Niveau de sensibilité à l'humidité (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Type de logique
    Scan Test Device with Buffers
  • Statut sans plomb / Statut RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Description détaillée
    Scan Test Device with Buffers IC 24-PDIP
  • Numéro de pièce de base
    74BCT8244

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Expédition
Paiement
Ce qui suit est des produits liés à "SN74BCT8244ANTG4".
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

La description: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

La description: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

La description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

La description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

La description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

La description: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

La description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

La description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

La description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

La description: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

La description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

La description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

La description: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

La description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

La description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

La description: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8240ADW

SN74BCT8240ADW

La description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
En stock
RFQ
SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

La description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
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RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

La description: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
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RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

La description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Fabricant: Luminary Micro / Texas Instruments
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RFQ
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